特許
J-GLOBAL ID：200903013948815508
超電導顕微鏡
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-099996
公開番号（公開出願番号）：特開平10-293165
出願日： 1997年04月17日
公開日（公表日）： 1998年11月04日
要約：
【要約】【課題】被測定試料固有の磁場に対して擾乱を与えることなく、かつ機械的な駆動機構を必要とすることなく、微小な2次元面内磁場分布を計測する。【解決手段】磁場分布を検出する超電導顕微鏡において、その磁束検出センサ部が、超電導電流を流すことにより、電極間で超電導電子波の位相のずれを生じる超電導弱結合素子を超電導ループに2個含むスクイド構造とし、かつ超電導ループ、および超電導弱結合素子を構成する電極の膜厚が、これらを構成するのに用いられる超電導材料の磁場侵入長に対して、動作温度における値の0.4 倍以下、より望ましくは0.2 倍以下であるスクイドを構成要素とする。
請求項（抜粋）：
磁場分布を検出する超電導顕微鏡において、その磁束検出センサ部が、超電導電流を流すことにより、電極間で超電導電子波の位相のずれを生じる超電導弱結合素子を超電導ループに2個含むスクイド構造とし、かつ超電導ループ、および超電導弱結合素子を構成する電極の膜厚が、これらを構成するのに用いられる超電導材料の磁場侵入長に対して、動作温度における値の0.4 倍以下、より望ましくは0.2 倍以下であるスクイドを構成要素とすることを特徴とする超電導顕微鏡。
IPC (3件)：
G01R 33/10
, G01N 27/72
, G01R 33/035
G01R 33/10
, G01N 27/72
, G01R 33/035
