特許
J-GLOBAL ID：200903013975637034

光ファイバ母材の欠陥検出装置および方法

発明者：
古田 繁之

古田 繁之 について


出願人/特許権者：
古河電気工業株式会社

古河電気工業株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-355971
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239211
出願日： 1997年12月25日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：
【要約】【課題】 本発明の課題は、検出されたそれぞれの欠陥について3次元的に位置を把握でき、かつ欠陥の見落としをより少なくすることができる光ファイバ母材の欠陥検出装置および方法を提供することにある。【解決手段】 光ファイバ母材1に、側方から、該光ファイバ母材1長手方向に幅広に形成されたシート状光3を入射させる光源2と、前記光ファイバ母材1内部において前記シート状光3が欠陥によって散乱されて生じる散乱光4を、前記光ファイバ母材1の側方で検出する検出器5a,5bと、前記光ファイバ母材1と、前記光源2および前記検出器5a,5bとを、該光ファイバ母材1の中心軸を中心として相対的に回転させる回転機構6とを有する光ファイバ母材1の欠陥検出装置。
請求項（抜粋）：
光ファイバ母材に、側方から、該光ファイバ母材長手方向に幅広に形成されたシート状光を入射させる光源と、前記光ファイバ母材内部において前記シート状光が欠陥によって散乱されて生じる散乱光を、前記光ファイバ母材の側方で検出する検出器と、前記光ファイバ母材と、前記光源および前記検出器とを、該光ファイバ母材の中心軸を中心として相対的に回転させる回転機構とを有することを特徴とする光ファイバ母材の欠陥検出装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00 ,  G02B 6/00 ,  G02B 6/00 356
FI (4件)：
G01M 11/00 R ,  G01M 11/00 T ,  G02B 6/00 356 A ,  G02B 6/00 A
引用特許：
審査官引用 (4件)
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