特許
J-GLOBAL ID：200903014021113286
温度依存特性測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-086071
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294466
出願日： 1994年04月25日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 被測定試料が入れられる測定室の中を連続的に冷却又は加熱するときに被測定試料の温度を速やかに応答させ、被測定試料の測定室への搬入を容易にする。【構成】 測定室20の側部に被測定試料7を出し入れするための密閉自在な扉21を有し、被測定試料7を載置する台座ボックス30はヒータ33及び中空部31を通過する冷却媒によって被測定試料7が載置される表面金属32をほぼ直接的に冷却又は加熱するようにした。台座ボックス30は、ヒータ33への給電量及び冷却媒の供給量をそれぞれ別々に又は同時に制御して、低温から高温にわたって所定の温度勾配で正確に昇温制御される。
請求項（抜粋）：
被測定試料を連続的に冷却又は加熱して温度を関数とした物性を測定する温度依存特性測定装置において、側部に前記被測定試料を出し入れするための密閉自在な扉を有し、上部に測定用の光束を入出射させるための透明材料製の窓を有する測定室と、前記測定室の内部を減圧する減圧手段と、加熱手段と前記測定室の外部より冷却媒が供給される冷却手段とを有し、前記測定室の内部に設置されていて測定時には前記被測定試料が載置される台座ボックスと、前記測定室の窓の上方に配設されて前記測定用の光束を出射する光源を有する光学系と、を備えたことを特徴とする温度依存特性測定装置。
IPC (3件)：
G01N 25/16
, G01N 21/41
, G01N 25/00
