特許

J-GLOBAL ID：200903014103507940

外観検査方法および外観検査装置

発明者： 小前 竜吾 ,  小池 慎太郎
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-121802
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310936
出願日： 2001年04月19日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：

【要約】【課題】 電子部品の電極等の金属部位の欠陥を外観検査によって自動的に検出する。【解決手段】 外観検査装置によるチップ型電子部品の外観検査では、まず、撮像部13が載置台によって搬送された対象ワークの電極部を撮像し、画像データを制御部へ送信する。次に、面積算出部15Bが、画像記憶部15Aに記憶された画像データに対して、基準輝度以下の画素を数えて低輝度領域の占有率を算出する。次に、欠陥判断部15Cが上記占有率が基準占有率を超えているかを判別し、基準占有率以上であれば対象ワークの電極部に欠陥があると判断する。ここで、上記の基準輝度や基準占有率、撮像部13での撮像の際に対象ワークに照射する光の照明角度は、対象ワークや検出する欠陥に応じてあらかじめ実験に基づいて設定されている。よって、チップ型電子部品の外部電極の外観検査を、画像処理によって自動的に行うことができる。

請求項（抜粋）：

検査対象である金属部位の外観を撮像する撮像処理と、上記撮像処理で撮像された画像において所定の基準輝度以下の低輝度領域が占める占有率を算出する面積算出処理と、上記占有率が所定の基準占有率を超えていれば、当該検査対象に欠陥が存在すると判断する欠陥判断処理と、を含むことを特徴とする外観検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/956 ,  G06T 1/00 305 ,  G06T 7/00 200

FI (3件)：

G01N 21/956 B ,  G06T 1/00 305 A ,  G06T 7/00 200 B

Fターム (24件)：

2G051AA61 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051BC10 ,  2G051CA04 ,  2G051ED04 ,  5B057AA03 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC02 ,  5B057DC23 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096DA02 ,  5L096FA37 ,  5L096FA54 ,  5L096JA11