特許
J-GLOBAL ID：200903014173000770

X線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、X線診断装置

発明者：
青木 邦夫

青木 邦夫 について

, 
高橋 章仁

高橋 章仁 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-043485
公開番号（公開出願番号）：特開2003-244540
出願日： 2002年02月20日
公開日（公表日）： 2003年08月29日
要約：
【要約】【課題】動作パラメータなどの設定を自動化して作業時間の短縮、入力ミスや設定ミスの低減を図ること。【解決手段】X線平面検出器2から出力されるべき画素値の期待値の基準レベル範囲を与え、X線を曝射したときのX線画像の画素値と画素値の期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較結果に基づいて動作パラメータを期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定し、かつX線平面検出器12のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数や、ゲイン補正係数、欠陥点の位置情報を自動的に決定する。
請求項（抜粋）：
X線平面検出器を動作させるための動作パラメータを調整するX線平面検出器のパラメータ調整方法において、前記X線平面検出器から出力される画素値の期待値の基準レベル範囲及びX線画像の収集タイミングを与える工程と、前記X線を曝射したときに前記収集タイミングで前記X線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素値と前記期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定する工程と、を有することを特徴とするX線平面検出器のパラメータ調整方法。
IPC (4件)：
H04N 5/32 ,  A61B 6/00 ,  A61B 6/00 300 ,  G01T 7/00
FI (4件)：
H04N 5/32 ,  A61B 6/00 300 M ,  G01T 7/00 C ,  A61B 6/00 350 Z
Fターム (30件)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088LL17 ,  2G088LL27 ,  4C093AA01 ,  4C093CA15 ,  4C093CA17 ,  4C093CA18 ,  4C093CA36 ,  4C093EB17 ,  4C093FA34 ,  4C093FA43 ,  4C093FC04 ,  4C093FC16 ,  4C093FC18 ,  4C093FC19 ,  4C093FD11 ,  4C093FD12 ,  4C093FD13 ,  4C093GA06 ,  4C093GA07 ,  5C024AX12 ,  5C024BX00 ,  5C024CX00 ,  5C024CX22 ,  5C024GZ00 ,  5C024HX00 ,  5C024HX18
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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