特許
J-GLOBAL ID：200903014184395963
画像表示方法および画像表示装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-181085
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027383
出願日： 1992年07月08日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：
【要約】【目的】試料の3次元的な時間変化を観察することができ、反応の早い細胞の状態を観察するのに好適な試料観察方法を提供することにある。【構成】共焦点顕微鏡10を用いて試料15の観察を行う場合、試料15の光軸方向に亘る複数の試料断層像を一定時間間隔をおいてコントローラ12に有するメモリに記憶させる第1ステップと、メモリに記憶された各時間毎の複数の試料断層像と一定時間間隔をおいた直後の複数試料断層像との差をとり、それを新たに差分画像として記憶させる第2ステップと、この第2ステップで作成した差分画像の断層像から疑似3次元像を作成し、時間経過とともに順に表示器14に表示する第3のステップとを含む試料観察方法。
請求項（抜粋）：
試料に対して光源からの光をスポット状に集光させるレンズと、前記試料と共役な位置に配置されたピンホ-ルと、このピンホ-ルを通過した光を光電変換して画像信号を出力する光検出器と、前記試料と前記レンズとを光軸と直交する面内で相対的に移動させて所定の断層面を2次元走査する第1の走査機構と、前記試料と前記レンズとを光軸方向に相対的に移動させる第2の走査機構と、前記光検出器から出力される画像信号を試料断層像デ-タに変換して記憶する画像記憶手段と、この画像記憶手段に記憶された試料断層像デ-タを表示する表示器を備えた共焦点顕微鏡を用いて前記試料の観察を行う場合、前記試料の光軸方向に亘る複数の試料断層像を一定時間間隔をおいて前記画像記憶手段に記憶させる第1ステップと、前記画像記憶手段に記憶された各時間毎の複数の試料断層像と一定時間間隔をおいた直後の複数試料断層像との差をとり、それを新たに差分画像として記憶させる第2ステップと、この第2ステップで作成した差分画像の断層像から疑似3次元像を作成し、時間経過とともに順に前記表示器に表示する第3のステップとを含む画像表示方法。
IPC (2件)：
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