特許
J-GLOBAL ID：200903014189180353
大気圧イオン化質量分析計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-088798
公開番号（公開出願番号）：特開平11-288683
出願日： 1998年04月01日
公開日（公表日）： 1999年10月19日
要約：
【要約】【課題】真空悪化によるイオンの運動エネルギの広がりを低減させつつ、高立体角のイオンを効果的に収束して高S/N比をもって質量分析を行うのに適した大気圧イオン化質量分析計を提供すること。【解決手段】大気圧イオン化イオン源3でイオン化されたイオンはサンプリング細孔15a、bを通って第1の電極系に入射する。第1の電極系は半球状のグリッド電極41、42で構成され、イオンに対しては減速系として働く。イオンはその後、半球状のグリッド電極43、44からなる第2電極系に入射して加速され、細孔21に収束される。収束されたイオンは入り口孔19を介して質量分析部6に導かれ、質量分析されて、検出器8によって検出される。サンプリング細孔15bを通った中性粒子はスクリ-ン45によって遮蔽され、質量分析部6に導入されない。
請求項（抜粋）：
大気圧下で試料をイオン化してそのイオンを生成する大気圧イオン化イオン源と、その生成されたイオンをイオンサンプリング細孔を通して導入して質量分析する質量分析部とを備えている大気圧イオン化質量分析計において、前記イオンサンプリング細孔と前記質量分析部との間に配置された第1及び第2の電極系を備え、前記第1の電極系は前記サンプリング細孔からのイオンを通す複数の半球状のグリッド電極を有し、前記第2の電極系は前記第1の電極系からのイオンを通して前記質量分析部に向ける複数の半球状のグリッド電極を有し、前記第1の電極系の複数のグリッド電極は前記サンプリング細孔側に凹にされており、前記第2の電極系の複数のグリッド電極は前記サンプリング細孔と反対側に凹にされており、それによって前記第2の電極系からのイオンを収束位置に収束させることを特徴する大気圧イオン化質量分析計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01J 49/06
, G01N 27/62 E
