特許
J-GLOBAL ID：200903014204859643

日照・日射計

発明者：
鬼村 邦治

鬼村 邦治 について

, 
金井 隆

金井 隆 について


出願人/特許権者：
横河電子機器株式会社

横河電子機器株式会社 について


代理人 (7件)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-204053
公開番号（公開出願番号）：特開2004-045259
出願日： 2002年07月12日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：
【課題】追尾するための可動機構を備えることなく日照・日射に関する気象量を高精度に測定する。【解決手段】太陽の照射光を所定の光検出器で検出することによって日照・日射に関する気象量を測定する日照・日射計であって、上記光検出器が検出する照射光の受光強度を所定の補正演算式を用いて光検出器の受光面に垂直な方向の受光強度に補正して日照・日射に関する気象量を測定する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
太陽の照射光を所定の光検出器で検出することによって日照・日射 に関する気象量を測定する日照・日射計であって、 前記光検出器が検出する照射光の受光強度を所定の補正演算式を用いて光検出器の受光面に垂直な方向の受光強度に補正して日照・日射に関する気象量を測定することを特徴とする日照・日射計。
IPC (4件)：
G01W1/12 ,  G01J1/02 ,  G04G1/00 ,  H01L31/04
FI (4件)：
G01W1/12 B ,  G01J1/02 U ,  G04G1/00 315Z ,  H01L31/04 Q
Fターム (18件)：
2F002AA00 ,  2F002FA16 ,  2F002GA04 ,  2G065AA04 ,  2G065AA15 ,  2G065AA17 ,  2G065BA10 ,  2G065BA34 ,  2G065BC13 ,  2G065BC16 ,  2G065BC22 ,  2G065BC23 ,  2G065BC28 ,  2G065CA05 ,  2G065DA01 ,  5F051BA05 ,  5F051BA11 ,  5F051KA10
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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