特許
J-GLOBAL ID:200903014250676286

光ファイバ歪みセンサによる変位測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤川 忠司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-215356
公開番号(公開出願番号):特開2004-061112
出願日: 2002年07月24日
公開日(公表日): 2004年02月26日
要約:
【課題】光ファイバ歪みセンサにより、測定対象物の変位位置及び変位量と共に変位方向を精度よく検知する手段を提供する。【解決手段】パイプ1の周囲に、光ファイバからなる軸線方向に沿う第1〜第4の導光路F1〜F4が順次に90°の位相差で等配付設された光ファイバ歪みセンサS1を用い、測定される歪み位置における第1導光路F1の歪み値をε1 、第2導光路F1の歪み値をε2 、第3導光路F1の歪み値をε3 、第4導光路F1の歪み値をε4 としたとき、第1導光路F1とパイプ中心Oを結ぶ方向と、変位方向Pとのなす角度θを、次式(1);θ=tan-1〔|ε2 -ε4 |/|ε1 -ε3 |〕 ・・・(1)にて算定する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
測定対象物の変位に追従して変形可能な棒状体の周囲に、軸線方向に沿う光ファイバからなる第1〜第4の4本の導光路が棒状体中心から等距離で且つ角度90°の位相差で等配付設されてなる光ファイバ歪みセンサを用い、その光ファイバに計測光パルスを入射した際に検出される後方散乱光に基づいて各導光路毎の長手方向の歪み位置と歪み値を測定し、 第1導光路の歪み値をε1 、第1導光路に対して棒状体の径方向反対側にある第3導光路の歪み値をε3 、第2導光路の歪み値をε2 、第2導光路に対して棒状体の径方向反対側にある第4導光路の歪み値をε4 としたとき、 当該歪み位置の棒状体横断面における第1及び第3導光路を結ぶ方向と測定対象物の変位方向とのなす角度θを、次式(1); θ=tan-1〔|ε2 -ε4 |/|ε1 -ε3 |〕 ・・・(1) にて算定することを特徴とする光ファイバ歪みセンサによる変位測定方法。
IPC (2件):
G01B11/26 ,  G01B11/16
FI (2件):
G01B11/26 Z ,  G01B11/16 Z
Fターム (7件):
2F065AA01 ,  2F065AA32 ,  2F065AA65 ,  2F065BB08 ,  2F065CC40 ,  2F065FF00 ,  2F065LL02
引用特許:
審査官引用 (3件)

前のページに戻る