特許

J-GLOBAL ID：200903014265459443

塗膜の隠蔽膜厚を推定する方法

発明者： 片山 治 ,  石村 一茂 ,  久保 信明
出願人/特許権者： 日本ペイント株式会社
代理人 (2件)： 河宮 治 ,  鮫島 睦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-034577
公開番号（公開出願番号）：特開2006-220554
出願日： 2005年02月10日
公開日（公表日）： 2006年08月24日
要約：

【課題】 目視測定を行わずに隠蔽膜厚を得ること。【解決手段】 本発明は、(i)白色被塗物および黒色被塗物の分光反射率を測定する工程、(ii)塗料を前記被塗物に塗布して塗膜を形成する工程、(iii)白色被塗物および黒色被塗物を下地にした塗膜の分光反射率を測定する工程、(iv)塗膜の膜厚を測定する工程、(v)工程(iv)で得られる膜厚ならびに工程(i)および(iii)で得られる分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地にした任意の膜厚(Xi=1,2,3...)を有する塗膜の分光反射率をアルゴリズムを用いて求める工程、ならびに(vi)工程(v)で得られる任意の膜厚を有する塗膜の分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地とする任意の膜厚の塗膜の色差ΔEを求める工程を含んで成り、色差ΔEと任意の膜厚との相関関係から隠蔽膜厚を推定することを特徴とする方法を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

塗膜の隠蔽膜厚を推定する方法であって、 (i)白色被塗物および黒色被塗物の分光反射率を測定する工程、 (ii)塗料を白色被塗物および黒色被塗物に塗布して塗膜を形成する工程、 (iii)白色被塗物および黒色被塗物を下地にした塗膜の分光反射率を測定する工程、 (iv)塗膜の膜厚を測定する工程、 (v)工程(iv)で得られる膜厚ならびに工程(i)および(iii)で得られる分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地にした任意の膜厚(Xi=1,2,3...)を有する塗膜の分光反射率をアルゴリズムを用いて求める工程、ならびに

IPC (1件)：

G01B 11/06

FI (1件)：

G01B11/06 Z

Fターム (8件)：

2F065AA30 ,  2F065CC31 ,  2F065FF41 ,  2F065FF46 ,  2F065LL67 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ41