特許
J-GLOBAL ID:200903014277988433

光の偏光状態および光伝送媒質の偏光特性の評価方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 五十嵐 清
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-350486
公開番号(公開出願番号):特開平9-072787
出願日: 1995年12月22日
公開日(公表日): 1997年03月18日
要約:
【要約】【課題】 光伝送媒質1の偏光状態と偏光特性を、ストークスベクトルを成分とするジョーンズベクトルとジョーンズ行列によって評価する。【解決手段】 入射側装置2から光伝送媒質1に3種類の偏光状態の光を入れ、出射側の分岐光Iと方位0°,90°,45°の検光子を通る分岐光Q,U,Vは光強度検出部9o ,9a〜9cによりストークスベクトルとして検出する。ストークスベクトルは第1の規格化部20でS1 =Q/I,S2 =U/I,S3 =V/Iの如く規格化し、さらに第2の規格化部21でSi/√(S12+S22+S32)⇒siの如く単位長さに再規格化する。偏光状態評価部15は、再規格化ストークスベクトルを成分とするジョーンズベクトルを実測し、光伝送媒質1の偏光状態を評価する。偏光特性評価部は、再規格化ストークスベクトルを成分としたジョーンズ行列を実測し、光伝送媒質1の偏光特性を評価する。
請求項(抜粋):
ジョーンズによる計算法によって光の偏光状態を与える二次元複素ベクトルからなる(数1)で示されるジョーンズベクトルΨ【数1】を大きさが1となるように(数2)のように規格化し、【数2】同様に、ミューラーによる計算法によって光の偏光状態を与える4次元実ベクトルからなる(数3)で示されるストークスベクトル【数3】を大きさが1となるようにS1 =Q/I,S2 =U/I,S3 =V/Iのように規格化し、この規格化したストークスベクトル間に、光の偏光度が100 %である場合に成り立つS12+S22+S32=1の条件と、この条件のもとに成立するS1 =|ξ1 |2 -|ξ2 |2S2 =2Re 1 ξ2 ](Re は実数部を示す)S3 =2Im 1 ξ2 ](Im は虚数部を示す)の関係式とを用いてジョーンズベクトルを規格化ストークスベクトルを成分として(数4),(数5)の如く表し(γは任意位相因子)、【数4】【数5】次の(数6)に示す極限操作が成り立つことを利用し、【数6】この極限操作を前提とすることにより、ジョーンズベクトルによる偏光状態の表示を(数7)に示す如く、【数7】実測可能な規格化ストークスベクトルで表現し、測定とその規格化により求められる規格化ストークスベクトルを用いて光の偏光状態を(数7)のジョーンズベクトルにより評価することを特徴とする光の偏光状態の評価方法。
IPC (2件):
G01J 4/00 ,  G02B 6/00
FI (2件):
G01J 4/00 ,  G02B 6/00 A
引用特許:
審査官引用 (1件)

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