特許

J-GLOBAL ID：200903014322258255

検査系列生成方法

発明者： 細川 利典
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-187352
公開番号（公開出願番号）：特開2000-088930
出願日： 1999年07月01日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：

【要約】【課題】 集積回路に対し、故障検査のための検査系列を時間展開モデルを用いて生成する方法において、効率よく、検査系列を短縮する。【解決手段】 集積回路に対し、時間軸展開を行い、組合せ回路からなる時間展開モデルを生成する(S10)。この時間展開モデルに対し、各時刻に外部入力および擬似外部入力が存在するか否かを表す基本テンプレートが1個以上圧縮されてなる圧縮テンプレートを生成する(S20)。時間展開モデルに対し、検査入力を生成し(S30)、生成した検査入力を、圧縮しつつ、検査系列に変換する(S40)。この圧縮は、ステップS20で生成した圧縮テンプレートに各検査入力を代入し、これらの圧縮テンプレートを連ねることによって行う。これにより、圧縮に時間を費やすことなく、短い検査系列を効率よく生成することができる。

請求項（抜粋）：

集積回路に対し、故障検査のための検査系列を生成する方法であって、前記集積回路に対して時間軸展開を行い、組合せ回路からなる時間展開モデルを生成するステップと、前記時間展開モデルに対して検査入力を生成し、生成した検査入力を、圧縮しつつ、前記集積回路に対する検査系列に変換するステップとを備えていることを特徴とする検査系列生成方法。

IPC (5件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 17/50 ,  H01L 21/82

FI (5件)：

G01R 31/28 Q ,  G06F 11/22 310 B ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 670 K ,  H01L 21/82 T