飛行時間型質量分析計のイオン光学系

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-041375
公開番号（公開出願番号）：特開2000-243346
出願日： 1999年02月19日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：

【要約】【課題】円筒電場を組み合わせた簡単な構造で、限られた狭い空間に長い飛行距離を収容できる新規な飛行時間型質量分析計のイオン光学系を提供する。【解決手段】多層円筒電場1〜3は、同心で等しい回転角(120°)を持ち回転半径の少しずつ異なる5つの円筒電場を多層に並べた構造を有し、それぞれの回転中心O1〜O3をイオン光学系の中心Oに向け、該中心Oを中心として放射状におおよそ120°の間隔で配置されている。イオンが、各多層円筒電場の5層の円筒電場を1層目から5層目まで順次通過するように各多層円筒電場を配置することにより、渦巻き型に5回転するイオン軌道が形成される。

請求項（抜粋）：

イオンが順次通過する複数の扇形電場を備えた飛行時間型質量分析計のイオン光学系であって、該複数の扇形電場により、イオンが360°以上回転するイオン軌道を構成すると共に、回転角が360°を超えたイオン軌道が360°までのイオン軌道の内側または外側に配置されるように構成されたことを特徴とする飛行時間型質量分析計のイオン光学系。

前のページに戻る