特許
J-GLOBAL ID：200903014374430986
プリント回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 勘次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-219965
公開番号（公開出願番号）：特開2003-035737
出願日： 2001年07月19日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：
【要約】【課題】 安価な構成で高精度の検査データを検出することができ、且つ汎用性のあるプリント回路基板検査装置を提供する。【解決手段】 プリント回路基板検査装置1は、インターポーザー基板Aを載置して裏面から電気信号を印加する電気信号入力回路6と、電気信号入力回路6を所定量ずつ移動させる移動機構7と、インターポーザー基板Aの表面の電位分布を検出するセンサ15とを備えている。センサ15の内部には、端部に電極が形成されたセンサ用回路が、インターポーザー基板Aに対して垂直且つ電気信号入力回路6の移動方向に対して斜めに配設されている。よって、インターポーザー基板Aが所定量ずつ移動していくごとに裏面から電気信号が印加され、表面の電位分布をセンサ用回路が検出する。プリント回路基板検査装置1は、インターポーザー基板Aの高精度の検査データを検出することができる。
請求項（抜粋）：
検査対象プリント回路基板に平行なXY平面上に配設された電極群を有する非接触センサを備え、前記検査対象プリント回路基板の一方の面に電気信号が加えられた際に、前記検査対象プリント回路基板の他方の面の電位分布を、前記電極群を介して検出するプリント回路基板検査装置であって、前記電極群は、X座標が第一所定間隔で大きくなり、且つY座標が第二所定間隔で大きくなるように、斜め直線上に配置された複数の電極からなる電極列を有するとともに、該電極列をX軸方向に複数並設して構成され、前記検査対象プリント回路基板を前記非接触センサに対してY軸方向に相対的に移動させる移動手段と、前記検査対象プリント回路基板を前記移動手段によって所定量移動させる毎に、複数の前記電極を走査し、前記検査対象プリント回路基板の電位分布を取得する分布取得手段とを具備することを特徴とするプリント回路基板検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (6件)：
2G014AA01
, 2G014AA02
, 2G014AA03
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G014AC12
