特許

J-GLOBAL ID：200903014390661890

赤外線光学装置

発明者： 重田 修作 ,  木村 英一 ,  東 昇
出願人/特許権者： 倉敷紡績株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-170537
公開番号（公開出願番号）：特開平6-011442
出願日： 1992年06月29日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：

【要約】【目的】 防爆を必要とする環境においても、またどのような測定対象の測定も容易に行える測定の柔軟性が高い赤外線光学装置を提供する。【構成】 赤外線光源1と、この赤外線光源1から出た赤外線を測定対象2の特定の吸収波長に分光する分光手段7と、この分光手段7から上記測定対象2を透過した赤外線を検出する赤外線検出手段19とを備え、上記測定波長の赤外線の測定対象2による吸収量を検出して測定対象2の厚みや濃度を検出する赤外線光学装置である。上記赤外線光源1から出た赤外線を上記測定対象2に導く投光用光ファイバ31と、この投光用光ファイバ31で導かれた赤外線を測定対象2に投光する投光光学系32と、上記測定対象2を透過した赤外線を集光する受光光学系45と、この受光光学系45により集光された赤外線を上記赤外線検出手段19に導く受光用光ファイバ51とを備える。

請求項（抜粋）：

赤外線を発生する赤外線光源と、この赤外線光源から出た赤外線を測定対象が有している特有の測定波長および参照波長に分光する分光手段と、この分光手段から上記測定対象に投射されて上記測定対象を透過した赤外線を検出する赤外線検出手段とを備え、上記測定光および参照光の測定対象による吸収量を検出して測定対象の厚みや濃度を検出する赤外線光学装置において、上記赤外線光源から出た赤外線を上記測定対象に導く投光用光ファイバと、この投光用光ファイバで導かれた赤外線を測定対象に投光する投光光学系と、上記測定対象を透過した赤外線を受光する受光光学系と、この受光光学系により受光された赤外線を上記赤外線検出手段に導く受光用光ファイバとを備えたことを特徴とする赤外線光学装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01B 11/06 101

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-058139
  
• 特開昭64-083135
  
• 特開平4-058139
  
• 特開昭64-083135