特許

J-GLOBAL ID：200903014410091611

半導体メモリ装置

発明者： 日比 康守
出願人/特許権者： 富士通株式会社 ,  富士通デバイス株式会社
代理人 (1件)： 岡本 啓三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-035532
公開番号（公開出願番号）：特開平6-250935
出願日： 1993年02月24日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】【目的】 本発明は半導体メモリディスク装置の改善に関し、情報エラー検出/訂正用データ記憶部を情報格納部として利用することにより、記憶容量の増設を容易にし、メモリ容量/価格比を向上させることを目的とする。【構成】 情報DATA と誤り検出/訂正用データECCとを入力し、情報DATA の誤り検出/訂正をしたデータ及び誤り検出/訂正用データECCを出力するエラー制御部11と、エラー制御部11から出力されるデータ及び誤り検出/訂正用データECCを格納する情報記憶部12と、情報DATA ,誤り検出/訂正用データECCのいずれか一方を外部制御信号SCに基づいて選択し、該情報DATA 又は誤り検出/訂正用データECCを情報記憶部12に供給するメモリ切り換え部13とを備え、外部制御信号SCが第1の状態のときは、情報記憶部12に、データ及び誤り検出/訂正用データECCを格納し、第2の状態のときは、情報記憶部12の誤り検出/訂正用データ記憶部12Bに情報DATA を格納することを含み構成する。

請求項（抜粋）：

情報(DATA )と誤り検出/訂正用データ(ECC)とを入力し、前記情報(DATA )の誤り検出/訂正をしたデータ及び誤り検出/訂正用データ(ECC)を出力するエラー制御部(11)と、前記エラー制御部(11)から出力されるデータ及び誤り検出/訂正用データ(ECC)を格納する情報記憶部(12)と、前記情報(DATA ),誤り検出/訂正用データ(ECC)のいずれか一方を外部制御信号(SC)に基づいて選択し、該情報(DATA )又は誤り検出/訂正用データ(ECC)を情報記憶部(12)に供給するメモリ切り換え部(13)とを備え、前記外部制御信号(SC)が第1の状態のときは、前記情報記憶部(12)に、データ及び誤り検出/訂正用データ(ECC)を格納し、第2の状態のときは、前記情報記憶部(12)の誤り検出/訂正用データ記憶部(12B)に情報(DATA )を格納することを特徴とする半導体メモリ装置。

IPC (3件)：

G06F 12/16 320 ,  G06F 3/08 ,  G06F 11/10 330

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭58-053099
  
• 特開平3-238540
  
• 拡散調節機能付き袋
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-274894   出願人：大日本印刷株式会社