特許
J-GLOBAL ID:200903014428557820

分光光度計

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-186377
公開番号(公開出願番号):特開平9-015048
出願日: 1995年06月28日
公開日(公表日): 1997年01月17日
要約:
【要約】【目的】 温度変化により光学系で生ずる波長シフトを補正する。【構成】 光学ユニット10内に設置した温度センサ16により試料測定時に温度を実測する。補正データメモリ18には予め測定した波長シフト量の温度係数が格納されており、波長補正処理部17では、実際の温度変化量に温度係数を乗じることにより補正量が算出される。そして、光検出器15の出力信号に基づき、波長シフトが補正された吸光度が計算される。
請求項(抜粋):
複数の微小受光素子が一次元的に配置された光検出器上に、試料を透過又は反射した光が波長に応じて分散するように光学系が構成される多波長同時測定型の分光光度計において、a)予め測定された温度変化量と波長方向の変化量との関係を示す情報を記憶しておくための記憶手段と、b)光学系の周囲温度を測定するための温度検出手段と、c)試料測定時に該温度検出手段により検出された温度変化に基づき、前記記憶手段中の情報を参照して、前記光検出器により得られた信号の波長方向の変化を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする分光光度計。

前のページに戻る