特許

J-GLOBAL ID：200903014450265744

回路基板検査装置

発明者： 入木田 実文
出願人/特許権者： グラフテック株式会社
代理人 (1件)： 高橋 友二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-187406
公開番号（公開出願番号）：特開平6-003417
出願日： 1992年06月23日
公開日（公表日）： 1994年01月11日
要約：

【要約】【目的】 回路基板検査装置で所望の端子へプローブを接触させる操作を容易にさせる。【構成】 測定対象基板の画像イメージを表示装置に表示し、表示装置のカーソル位置を移動して端子の画像イメージに一致させることとした。

請求項（抜粋）：

測定の対象となる回路基板が載置されるX-Yテーブル、このX-Yテーブルの基板載置平面をX-Y平面とするX-Y-Z直交座標に関し、X-Y平面上の位置を任意に制御することができ、且つその位置座標を検出することができるように構成されたキャリッジ、このプローブをZ軸方向に駆動するプローブ上下機構、上記X-Yテーブル上に載置された回路基板の画像イメージを撮像し、この撮像した画像イメージを当該画像のX-Y平面上の座標位置をアドレスとして画像メモリに記憶する撮像手段、上記画像メモリに記憶した回路基板の画像イメージを読み出して表示装置上に表示する手段、当該回路基板が表示された表示装置上に指標マークを表示し、この指標マークを当該回路基板の所定の測定点に一致させることができるよう操作によって該指標マークの表示位置を変化させる指標マーク制御手段、上記表示装置上の指標マーク位置に相当する当該回路基板の座標位置を記憶する記憶手段、該記憶手段から当該回路基板の座標位置を読み出し、上記プローブを当該回路基板の座標位置に合致させるよう上記キャリッジを移動させる位置合わせ機構を備え、該位置合わせ機構により上記プローブを当該回路基板の測定点に位置合わせした後、上記プローブ上下機構により上記プローブを当該測定点に接触させる回路基板検査装置。