特許
J-GLOBAL ID：200903014450775220
表面プラズモン共鳴センサチップ及びそれを用いた試料の分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-195504
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014622
出願日： 2001年06月27日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：
【要約】【課題】 回折格子型の表面プラズモン共鳴センサチップに関し、測定点の面積を厳密に制御してばらつきのない均一なシグナルを得ることを可能にする。【解決手段】 照射光を照射した時に表面プラズモン共鳴現象が起きる共鳴領域6をセンサチップ1のセンサ面1a内に部分的に形成しておき、この共鳴領域6を覆うように結合物質7をセンサ面1a上に塗布し、且つ、この共鳴領域6の全体を照らすように照射光を照射することで、共鳴領域6の面積によって測定点の面積をコントロールする。
請求項（抜粋）：
試料と接するセンサ面と、上記センサ面の近傍に設けられ表面プラズモン波を誘起しうる金属層と、上記センサ面の近傍に設けられ照射光の照射によりエバネッセント波を生じさせる回折格子とを備えた表面プラズモン共鳴センサチップにおいて、照射光の照射により上記表面プラズモン波と上記エバネッセント波との共鳴現象が生じうる共鳴領域が上記センサ面内に部分的に形成されるとともに、試料中の検出種と特異的に結合する結合物質が固定化された反応領域が上記共鳴領域を覆うように上記センサ面内に設けられていることを特徴とする、表面プラズモン共鳴センサチップ。
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059EE04
, 2G059FF03
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059JJ19
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059MM01
