特許

J-GLOBAL ID：200903014456691737

光回折構造による隠しパターンの判別方法

発明者： 鈴木 慎一郎
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-156195
公開番号（公開出願番号）：特開2003-344632
出願日： 2002年05月29日
公開日（公表日）： 2003年12月03日
要約：

【要約】【課題】確認パターンにより偽造品をチェックする際に、光回折構造の中に組み込まれた隠しパターンが見る角度によって微かに視認されてしまうという課題がある。【解決手段】前記課題解決のために、透明なフィルムの表面に形成された判別パターンによって隠しパターンを判別する方法であって、前記隠しパターンは、回折格子により形成された全体領域が判別可能な複数の部分領域に分割され、前記部分領域の中の、少なくとも1個の領域が判別不可能な2つのパターンで構成され、前記2つのパターンはそれぞれが互いに平行に配列された微細な縞で構成されていることを特徴とする光回折構造によるパターンで、前記判別パターンは、前記2つのパターンの何れか1つのパターンを構成する縞と平行に形成する。

請求項（抜粋）：

透明なフィルムの表面に形成された判別パターンによって隠しパターンを判別する方法であって、前記隠しパターンは、回折格子により形成された全体領域が判別可能な複数の部分領域に分割され、前記部分領域の中の、少なくとも1個の領域が判別不可能な2つのパターンで構成され、前記2つのパターンはそれぞれが互いに平行に配列された微細な縞で構成されていることを特徴とする光回折構造によるパターンで、前記判別パターンは、前記2つのパターンの何れか1つのパターンを構成する縞と平行に形成された縞状のパターンであることを特徴とする光回折構造による隠しパターンの判別方法。

IPC (3件)：

G02B 5/18 ,  B42D 15/10 531 ,  G07D 7/12

FI (3件)：

G02B 5/18 ,  B42D 15/10 531 C ,  G07D 7/12

Fターム (35件)：

2C005HA04 ,  2C005HB09 ,  2C005HB10 ,  2C005JA12 ,  2C005JA18 ,  2C005JA19 ,  2C005JB08 ,  2C005JB09 ,  2C005JB22 ,  2C005JB25 ,  2C005KA40 ,  2C005KA48 ,  2C005KA51 ,  2C005KA57 ,  2C005LA14 ,  2C005LA19 ,  2C005LA20 ,  2C005LA24 ,  2C005LA30 ,  2H049AA07 ,  2H049AA13 ,  2H049AA31 ,  2H049AA33 ,  2H049AA37 ,  2H049AA60 ,  2H049AA61 ,  2H049AA65 ,  3E041AA01 ,  3E041AA02 ,  3E041AA03 ,  3E041BA14 ,  3E041BA16 ,  3E041BA20 ,  3E041BB01 ,  3E041DB01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 画像形成体、確認具、および確認方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-084348   出願人：大日本印刷株式会社
• 偽造防止装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2002-505209   出願人：ドゥラリュインターナショナルリミティド