特許
J-GLOBAL ID：200903014475054527
表面欠陥検出方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-046793
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241397
出願日： 1999年02月24日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 材料の表層部に存在する傷を、超音波の表面波を用いて透過法によりオンラインで迅速に検出するとともに、その表面欠陥の深さを正確に推定できるようにする。【解決手段】 被検査体1の表層部に超音波の表面波を発生させる送信用超音波探触子3と、被検査体の表層部を透過した表面波を受信する受信用超音波探触子6を備え、材料表層部の欠陥2を検出するものにおいて、2つ以上の異なる周波数のバースト波を時間的に分けて集合した送信波形11を任意波形発生装置10により送信用超音波探触子3に送信し、受信用超音波探触子6でそれぞれの周波数の透過表面波を受信する際にはそれぞれの到達時刻に合わせてゲート回路15で検出し、さらにそれぞれの周波数の透過強度をピークホールド回路16a、16b、16c、・・・で求め、その透過強度から深さ推定部18で欠陥深さを推定する。
請求項（抜粋）：
超音波の表面波を用いて透過法により材料表層部の欠陥を検出する方法において、2つ以上の異なる周波数のバースト波を時間的に分けて集合したものを送信波形として用い、受信の際にそれぞれの周波数の透過表面波をそれぞれの到達時刻に合わせたゲート回路を用いて検出し、検出した透過表面波のそれぞれの周波数の透過強度から欠陥の深さを求めることを特徴とする表面欠陥検出方法。
Fターム (14件)：
2G047BA01
, 2G047BC03
, 2G047BC04
, 2G047BC08
, 2G047BC10
, 2G047BC18
, 2G047CB03
, 2G047EA09
, 2G047GF08
, 2G047GF21
, 2G047GG01
, 2G047GG09
, 2G047GG12
, 2G047GG24
