特許
J-GLOBAL ID:200903014479767676

工場診断方法及びその装置、工場診断プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-259001
公開番号(公開出願番号):特開2004-102326
出願日: 2002年09月04日
公開日(公表日): 2004年04月02日
要約:
【課題】現状評価結果を経営指標への影響度により提示し、企業経営者によって現状把握を容易に判断すること。【解決手段】診断対象である工場の現状を工場管理指標により提示される現状情報に基づいて工場に対する評価を行い、この評価結果に基づいて工場の改善箇所に対する改善策を決定する工場診断装置に、工場に対する評価結果を経営指標で提示される評価結果に変換する指標変換システム22を備えた。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
工場管理指標により提示される工場の現状情報に基づいて前記工場に対する診断の評価を行い、この評価結果に基づいて前記工場の改善箇所に対する改善策を決定する工場診断方法において、 前記工場管理指標により提示される前記工場の前記評価結果を、経営指標により提示される評価結果に変換することを特徴とする工場診断方法。
IPC (2件):
G06F17/60 ,  G05B19/418
FI (2件):
G06F17/60 168 ,  G05B19/418 Z
Fターム (9件):
3C100AA21 ,  3C100BB11 ,  3C100BB17 ,  3C100BB27 ,  3C100EE08 ,  3C100EE11 ,  3C100EE14 ,  3C100EE16 ,  3C100EE18
引用特許:
審査官引用 (2件)

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