特許

J-GLOBAL ID：200903014502904562

アレイ超音波探傷方法及びその装置

発明者： 増田 智紀 ,  伊藤 一博
出願人/特許権者： 東京瓦斯株式会社
代理人 (1件)： 大橋 弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-010277
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201359
出願日： 1995年01月26日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【目的】 微細なきずの位置と大きさ、形状を高精度で測定する。【構成】 アレイ超音波振動子2...を駆動して得た振動子2...毎の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算或いは実験により求めて記憶装置5に記憶しておいた受信位相又は受信位相差の分布とをパターンマッチング計算器6によりパターンマッチングして反射体の形状及びサイズを推定する。

請求項（抜粋）：

アレイ超音波探傷において、複数のアレイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておいた位相又は位相差の分布とをパターンマッチングすることにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音波探傷方法。

IPC (3件)：

G01N 29/22 504 ,  G01B 17/00 ,  G01N 29/10 501

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭56-162046
  
• 特開昭63-061948
  
• 特表昭60-501774