特許

J-GLOBAL ID：200903014586828882

光半導体レーザの波長検査方法および装置

発明者： 小野 晴義 ,  馬場 功
出願人/特許権者： 富士通カンタムデバイス株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-198337
公開番号（公開出願番号）：特開2003-017802
出願日： 2001年06月29日
公開日（公表日）： 2003年01月17日
要約：

【要約】【課題】 光半導体レーザの発振波長を所定の目標波長にチューニングするのに、従来は、発振波長と波長可変項目である電流または素子温度の比を示す基本波長係数として関係付け、目標波長への追い込みを行なっていた。数多くの光半導体レーザを検査するのに要する時間を短縮する方法が求められている。【解決手段】 波長可変項目の変化量に対する波長変化量を実測から求め、両変化量の比を修正波長係数として基本波長係数を更新することによって、目標波長へのチューニングに、実際のデバイスの目標波長に近づいた状態での特性を利用する。

請求項（抜粋）：

波長を可変するための波長可変項目及び前記波長可変項目の値変化に対する波長変化量の相関を示す基本波長係数を有する光半導体レーザのチューニングを行う方法において、前記基本波長係数に基づいて目標波長を得る為の波長可変項目の値を演算するとともに、前記演算された波長可変項目の値における前記光半導体レーザの実測波長を取得し、前記実測波長と前記目標波長の違いから、修正波長係数を演算して取得することを特徴とする光半導体レーザの波長検査方法。

IPC (4件)：

H01S 5/0687 ,  G01J 1/42 ,  G01J 9/00 ,  G01M 11/00

FI (4件)：

H01S 5/0687 ,  G01J 1/42 D ,  G01J 9/00 ,  G01M 11/00 T

Fターム (15件)：

2G065AB09 ,  2G065BA01 ,  2G065BB25 ,  2G065BC13 ,  2G065BC14 ,  2G065BC35 ,  2G065CA21 ,  2G065DA05 ,  2G086EE03 ,  5F073AA64 ,  5F073EA03 ,  5F073FA11 ,  5F073FA25 ,  5F073GA02 ,  5F073GA13