特許
J-GLOBAL ID:200903014626789095

製品検査方法及び製品検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-111452
公開番号(公開出願番号):特開2004-318488
出願日: 2003年04月16日
公開日(公表日): 2004年11月11日
要約:
【課題】登録されたマスターパターンを用いてパターンマッチングを行う事により、異種品や不良品の混入を検出する従来の製品検査では、マスターパターンの登録に時間と工数を要して、検査コストが高いという問題があった。【解決手段】製品の集合体中に含まれる製品間で相互にパターンマッチングを行うことにより、マスターパターンの作成、登録の工程をなくする。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
複数の製品の集合体を撮影し、画像データに変換し、該画像データを処理して、前記集合体に異種製品又は不良製品が混入しているか否かを検査する製品検査方法において、 前記複数製品個々の前記画像データを相互に比較するパターンマッチングにより、検査を行うことを特徴とする製品検査方法。
IPC (2件):
G06T1/00 ,  G06T7/00
FI (2件):
G06T1/00 300 ,  G06T7/00 300E
Fターム (16件):
5B057AA02 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC32 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096CA14 ,  5L096FA34 ,  5L096FA38 ,  5L096GA19 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03 ,  5L096KA13

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