特許
J-GLOBAL ID：200903014668823358
電界強度測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-151405
公開番号（公開出願番号）：特開平6-342017
出願日： 1993年05月28日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：
【要約】【目的】 高感度の電界強度測定ができる電界強度測定装置を提供することを目的にしている。【構成】 電気光学結晶の電界による屈折率の変化をレーザ光によって検知して、空間電界強度の測定を行なう電界強度測定装置において、レーザ光源1、上記レーザ光源からのレーザ光が入射する入射方向側の一方のミラー3と他方のミラー4の間に電気光学結晶5を配置してなる光共振器2と、上記レーザ光源からのレーザ光を上記光共振器2に入射させて、上記レーザ光源からのレーザ光の透過光又は反射光の位相変化を光ヘテロダインを用いて空間電界の測定を行なう電界測定装置。
請求項（抜粋）：
電気光学結晶の電界による屈折率の変化をレーザ光によって検知し、空間電界強度の測定を行なう電界強度測定装置において、レーザ光源と、上記レーザ光源からのレーザ光が入射する入射方向側の一方のミラーと他方のミラーとの間に電気光学結晶を配置してなる光共振器を備え、上記レーザ光源からのレーザ光を上記光共振器に入射させて、上記レーザ光源からのレーザ光の透過光又は反射光の位相変化を光ヘテロダインを用いて空間電界の測定を行なうように構成したことを特徴とする電界強度測定装置。
IPC (2件)：
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