特許
J-GLOBAL ID：200903014717402304
液晶パネルの検査解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-099039
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292759
出願日： 1999年04月06日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：
【要約】【課題】 液晶パネルの目視検査において表示不良の生じている基板を容易に特定できる検査解析方法を提供する。【解決手段】 第1基板2および第2基板3におけるそれぞれのドライバを実装する突出部2B、3Bと反対側の側縁に沿って設定された一点鎖線a、bで、第1基板2と第2基板3とを共に分断する。次に、二点鎖線cに沿って第2基板3を切断し、二点鎖線dに沿って第1基板2を切断して、第1基板2、第2基板3どうしを平面方向に相対移動(スライド)可能にする。次に、例えば表示面にしみやむらなどの表示不良部分が目視される場合に、表示不良部分がどちらに移動したかにより表示不良部分が属す基板を特定する。
請求項（抜粋）：
互いに対向する面に表示用電極が形成された、第1基板と第2基板との間に液晶が封止された液晶パネルの検査解析方法であって、前記基板どうしをスライド可能に切断する切断工程と、それぞれの前記基板に形成された前記表示用電極に駆動電力を供給しつつ前記基板どうしを相対的にスライドさせて表示不良箇所の移動方向を判別しその移動方向に基づいて前記第1基板、前記第2基板のいずれかに表示不良箇所が属することを判別する判別工程と、を備えることを特徴とする液晶パネルの検査解析方法。
Fターム (10件)：
2H088FA04
, 2H088FA07
, 2H088FA11
, 2H088FA17
, 2H088FA25
, 2H088HA01
, 2H088HA05
, 2H088HA08
, 2H088HA28
, 2H088MA20
