特許

J-GLOBAL ID：200903014736002821

米粒の品質判定装置

発明者： 杉本 真規 ,  青島 由武
出願人/特許権者： 静岡製機株式会社
代理人 (1件)： 西郷 義美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-136224
公開番号（公開出願番号）：特開平5-307000
出願日： 1992年04月28日
公開日（公表日）： 1993年11月19日
要約：

【要約】【目的】 この発明の目的は、照射部の寿命延長を果たし得て保守点検上において有利となし得て、また、照射部や受光部の小型化を図り得て装置全体の小型化を果たし得るとともにコスト的に有利に実施し得る米粒の品質判定装置を実現することを目的としている。【構成】 この目的を達成するために、この発明は、米粒の一粒毎に光を照射して前記米粒の一粒毎の光の状態を検出し、この検出値から前記米粒の一粒毎の品質を判定する米粒の品質判定装置において、中心波長の異なる複数の単色光源の発する各単色光の光軸を略一致させて前記米粒の一粒毎に照射する照射部を設け、この照射部により照射される各単色光の前記米粒の一粒毎の反射光および/または透過光を受光して電気信号に変換する受光部を設けたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

米粒の一粒毎に光を照射して前記米粒の一粒毎の光の状態を検出し、この検出値から前記米粒の一粒毎の品質を判定する米粒の品質判定装置において、中心波長の異なる複数の単色光源の発する各単色光の光軸を略一致させて前記米粒の一粒毎に照射する照射部を設け、この照射部により照射される各単色光の前記米粒の一粒毎の反射光および/または透過光を受光して電気信号に変換する受光部を設けたことを特徴とする米粒の品質判定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/47 ,  G01N 21/27

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-161136
  
• 特開昭59-015841
  
• 特開平3-075533
  
• 特開平1-119739