特許

J-GLOBAL ID：200903014811208988

スルーホール検査装置

発明者： 丸山 祐二 ,  山本 淳晴 ,  川村 秀昭 ,  川上 秀彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-225918
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060537
出願日： 1991年09月05日
公開日（公表日）： 1993年03月09日
要約：

【要約】【目的】 プリント基板のスルーホール検査装置に関するもので、スルーホール画像の歪やスルーホールの穴数だけで検出できなかった欠陥を検出するとともに、かつ高速で精度良く検出できるスルーホール検査装置を提供する。【構成】 透過照明手段102によりプリント基板101に形成されたスルーホールを照明し、スルーホールを通過した光を拡散板103を介して撮像した濃淡画像を2値化手段105により2値画像に変換する。2値化されたスルーホール画像をラベリング手段106でスルーホール毎に画素単位に番号付けをし、番号付けされた画素を積算手段107により積算しスルーホール画像の面積と座標を求め、面積と座標により判定手段108で良否判定を行うことで、高速で精度の良い欠陥検出ができる。

請求項（抜粋）：

透過照明によりプリント基板に形成されたスルーホールを照明する照明手段と、スルーホールを通過した光を拡散板を介して撮像する画像入力手段と、前記画像入力手段からの濃淡画像を2値画像に変換する2値化手段と、スルーホール画像をスルーホール毎に画素単位に番号付けをするラベリング手段と、前記ラベリング手段によって番号付けされた画素を積算しスルーホール画像の面積と座標を求める積算手段と、面積と座標により良否判定を行う判定手段とを具備するスルーホール検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/62 405 ,  G06F 15/70 460 ,  H05K 3/00