特許

J-GLOBAL ID：200903014829508547

印鑑照合装置および印鑑照合システム

発明者： 三谷 穣
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社
代理人 (1件)： 金倉 喬二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-074639
公開番号（公開出願番号）：特開2001-266156
出願日： 2000年03月16日
公開日（公表日）： 2001年09月28日
要約：

【要約】【課題】 登録されている印鑑が複数ある場合でも、一度に照合が行えるようにする。【解決手段】 帳票から切り出して認識したキー情報を印鑑キー格納部8に格納し、このキー情報で印鑑サーバ4に対して印影マスタを要求する。印鑑サーバ4はキー情報を基に特定される全ての印影マスタを印鑑照合装置1に送る。印鑑照合装置1は全ての印影マスタを印影マスタ格納部11に格納し、全ての印影マスタの印影と、帳票から取得した被照合対象の印影とを照合して、照合結果判定部14はそれぞれの照合結果の評価そして判定を行う。そして、画面に、全ての印影マスタと照合結果、その中の最適な印影マスタ、およびキー情報を表示する。

請求項（抜粋）：

1枚の帳票に対し、帳票上のキー情報で特定される本人印鑑、代理人印鑑、旧印鑑を含むすべての印影マスタを取得し、帳票上の印影と前記取得したすべての印影の照合処理を行い、それぞれの照合結果を判定することを特徴とする印鑑照合装置。

IPC (2件)：

G06T 7/00 590 ,  B42D 11/00

FI (2件)：

G06T 7/00 590 ,  B42D 11/00 T

Fターム (9件)：

5B043AA01 ,  5B043BA09 ,  5B043CA06 ,  5B043DA02 ,  5B043FA03 ,  5B043FA07 ,  5B043FA10 ,  5B043GA08 ,  5B043HA01

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-268070
  
• 印鑑照会システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-167932   出願人：株式会社ジムコ
• 特開昭62-019985
  
• 特開昭61-182169