特許
J-GLOBAL ID：200903014869266880
分光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-029537
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241900
出願日： 1993年02月19日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】 凹面回折格子に測定用光線束を入射させるとともに、凹面回折格子により回折された回折光をアレイ型受光素子で検出して、その検出結果より測定用光線束のスペクトル分布を得る処理手段を備えた分光分析装置において、受光素子にできるだけ暗出力を生じにくく、測定を正確におこなうことができる分光分析装置を得る。【構成】 測定用光線束のアレイ型受光素子7への入射状態を、測定用光線束がアレイ型受光素子7に入光される測定光入射状態と、入光されない測定光非入射状態とに切り換える入射制御手段200を備えるとともに、測定光入射状態においてアレイ型受光素子7による検出をおこない、測定光非入射状態において処理手段70による処理をおこなう連係手段10を備えて構成する。
請求項（抜粋）：
凹面回折格子(6)に測定用光線束を入射させるとともに、前記凹面回折格子(6)により回折された回折光をアレイ型受光素子(7)で検出して、その検出結果より前記測定用光線束のスペクトル関連情報を得る処理手段(70)を備えた分光分析装置であって、前記測定用光線束の前記アレイ型受光素子(7)への入射状態を、前記測定用光線束が前記アレイ型受光素子(7)に入光される測定光入射状態と、入光されない測定光非入射状態とに切り換える入射制御手段(200)を備えるとともに、前記測定光入射状態において前記アレイ型受光素子(7)による検出をおこない、前記測定光非入射状態において前記処理手段(70)による処理をおこなう連係手段(10)を備えた分光分析装置。
IPC (3件)：
G01J 3/36
, G01J 3/18
, G01N 21/27
