特許
J-GLOBAL ID:200903014892939752
ヒートシンク付回路基板
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
須田 正義
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-184272
公開番号(公開出願番号):特開2003-007895
出願日: 2001年06月19日
公開日(公表日): 2003年01月10日
要約:
【要約】【課題】 回路基板の熱サイクル寿命を延し、回路からヒートシンクへの熱伝導率を良好に保つ。【解決手段】 ヒートシンク11は、シンク本体12と、このシンク本体12の表面に形成された絶縁層13とを備え、この絶縁層13には回路14が積層接着される。上記シンク本体12は(2.0〜10.0)×10-6/°Cの熱膨張係数を有し、上記絶縁層13は無機物により形成され、更に上記回路14は99.5%以上の純度のAl合金により形成される。具体的には、シンク本体12はCu/Mo/Cuのクラッド材、Cu/CuO、AlSiC、AlC、CuSiC又はMoのいずれかにより形成され、絶縁層13はシンク本体12の表面に積層接着されたシリカコーティング層13aである。また回路14はシリカコーティング層13aにAl系のろう材層16により積層接着される。
請求項(抜粋):
ヒートシンク(11)がシンク本体(12)とこのシンク本体(12)の表面に形成された絶縁層(13)とを備え、前記絶縁層(13)に回路(14)が積層接着されたヒートシンク付回路基板において、前記シンク本体(12)が(2.0〜10.0)×10-6/°Cの熱膨張係数を有し、前記絶縁層(13)が無機物により形成され、前記回路(14)が99.5%以上のAl純度を有するAl合金により形成されたことを特徴とするヒートシンク付回路基板。
IPC (7件):
H01L 23/12
, H01L 23/14
, H01L 23/373
, H05K 1/02
, H05K 1/03 610
, H05K 3/20
, H05K 7/20
FI (7件):
H05K 1/02 F
, H05K 1/03 610 E
, H05K 3/20 Z
, H05K 7/20 C
, H01L 23/12 J
, H01L 23/14 M
, H01L 23/36 M
Fターム (37件):
5E322AA11
, 5E322AB02
, 5E322AB06
, 5E322AB09
, 5E322FA04
, 5E338AA01
, 5E338AA15
, 5E338AA18
, 5E338BB02
, 5E338BB05
, 5E338BB12
, 5E338BB22
, 5E338BB71
, 5E338BB80
, 5E338EE02
, 5E343AA02
, 5E343AA23
, 5E343BB01
, 5E343BB04
, 5E343BB06
, 5E343BB28
, 5E343BB67
, 5E343CC01
, 5E343CC06
, 5E343DD56
, 5E343DD62
, 5E343EE22
, 5E343ER47
, 5E343GG01
, 5E343GG11
, 5F036AA01
, 5F036BA23
, 5F036BB08
, 5F036BC22
, 5F036BD01
, 5F036BD03
, 5F036BD11
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
特開平2-122550
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回路基板
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-280998
出願人:電気化学工業株式会社
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