特許
J-GLOBAL ID:200903014995531450
テストケース作成装置及びテストケース作成方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-161773
公開番号(公開出願番号):特開平11-353348
出願日: 1998年06月10日
公開日(公表日): 1999年12月24日
要約:
【要約】【課題】大規模複雑なコンピュータ応用製品に対して、必要に応じて部分の切り分けをした詳細なテストケースの作成を効率良く行うことにより、製品事故を防止すること。【解決手段】本発明では、テスト範囲を自由に設定し、テスト範囲の中で、意味のない事象や状態の場合わけを除いた、合理的なテストケースを自動生成することにより、合理的な試験仕様を作成できる。
請求項(抜粋):
状態遷移図で記述された仕様に基づいて、状態遷移図中の遷移事象の系列としてテストケースを作成するテストケース作成支援装置において、装置相互のデータの流れを記述するデータフロー図で記述した仕様におけるデータフローと、該状態遷移図の遷移事象との間の対応付けを記述した表を参照することにより、遷移事象と、その遷移事象がどの装置の入力または出力であるかの情報の組からなる系列に、テストケースを生成することを特徴とするテストケース作成装置。
IPC (3件):
G06F 17/50
, G01R 31/28
, G06F 11/22 310
FI (3件):
G06F 15/60 670
, G06F 11/22 310 A
, G01R 31/28 F
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