特許
J-GLOBAL ID:200903015008123910

測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-171249
公開番号(公開出願番号):特開2001-004670
出願日: 1999年06月17日
公開日(公表日): 2001年01月12日
要約:
【要約】【課題】被測定素子であるサイリスタが不良品の場合であっても、オシロスコープの電圧軸入力端子の耐圧値を超える電圧が印加されることがなく、従ってオシロスコープの電圧軸入力回路が破壊されることがない測定装置を提供すること。【解決手段】電圧源1と、負荷抵抗2と、サイリスタ3と、トリガ回路4と、遅延回路5と、制御回路6と、駆動回路10と、スイッチ11と、電流検出器12と、電流電圧変換回路13と、オシロスコープ14とから構成され、制御回路6は、比較器7と、基準電圧源8と、論理積ゲート9とから構成されている。
請求項(抜粋):
トリガ信号が入力されスイッチング出力信号により特性が評価される被測定素子に対し第1の時刻に前記トリガ信号を与えるトリガ回路と、前記第1の時刻を遅延した第2の時刻に前記スイッチング出力信号を通過開始させるスイッチ手段とを備え、前記スイッチ手段は前記スイッチング出力信号の電圧が基準電圧以下になるまでは、前記第2の時刻を経過しても、前記スイッチング出力信号を通過させないようにすることを特徴とする測定装置。
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開昭58-021169
  • 特開昭57-179666
  • 特開平3-017561
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