特許

J-GLOBAL ID：200903015021110976

PCI測定信号およびOCT・A走査信号における分散の立体的可変相関核による後からの数値補償

発明者： アドルフ フリードリッヒ フェルヒェル
出願人/特許権者： カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
代理人 (1件)： 松田 省躬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-151650
公開番号（公開出願番号）：特開2003-035659
出願日： 2002年05月27日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】光線通過媒質の分散は、コヒーレント長を拡大させOCTの深部分解能を低下させている。【解決手段】z方向の測定軸に沿ってそれぞれz方向に反射する光線の唯一つのスポット箇所についての干渉計信号と、それに対応する同分散値を持つ立体的可変相関核とを相関させることによって、分散の影響を後からの補償で除去する、短コヒーレンス干渉計および/またはOCT干渉計の信号における分散補償のための方法および/または装置を提供する。

請求項（抜粋）：

z方向の測定軸に沿ってそれぞれz方向に反射する光線の唯一つのスポット箇所についての干渉計信号と、それに対応する同分散値を持つ立体的可変相関核とを相関させることによって、分散の影響を、後からの補償で除去することを特徴とする、短コヒーレンス干渉計および/またはOCT干渉計の信号における分散補償のための方法および/または装置

IPC (3件)：

G01N 21/17 620 ,  A61B 3/12 ,  G01N 21/45

FI (3件)：

G01N 21/17 620 ,  G01N 21/45 A ,  A61B 3/12 E

Fターム (15件)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM10

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光学的断層像撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-087636   出願人：株式会社生体光情報研究所
• 相反光学素子を用いた光コヒーレンス領域反射測定法および光コヒーレンス断層撮影法のための干渉計
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-570524   出願人：イザット,ジョセフエイ., ローリンズ,アンドリューエム.