特許
J-GLOBAL ID:200903015052137899
真円度測定装置、円筒軸測位装置、及び円筒研削盤
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
藤谷 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-174747
公開番号(公開出願番号):特開2001-066132
出願日: 2000年06月12日
公開日(公表日): 2001年03月16日
要約:
【要約】【課題】 偏心円筒の真円加工を短時間かつ高精度に行う。【解決手段】 図2は、クランクピン(偏心円筒)の横断面平面上での測定器滑動手段の動作を模式的に表現したもので、関数y(ψ,x)を関数y(θ)に変換するパラメータ変換の方法を示す。測定変数である三点接触式測定器の出力値y、クランクピンの中心点OのC軸回りの回転角ψ、及び、C軸とW軸間の距離xは、各々同時に測定されるため、「θ=f(ψ,x)」なる関数fが定まり、よって、測定器の出力値y(関数値y(ψ,x))を関数y(θ)として扱うことが可能となる。即ち、測定変数y、x、ψを同時に計測することにより、回動軸にて回動可能に支持された工作物を機外に取り外すことなく、θを独立変数とする関数y(θ)を求めることが可能となる。更に、y(θ)より円筒半径r(θ)、X軸補正量δx(ψ)を求めることも同時に自動化可能である。
請求項(抜粋):
回転軸にて回転可能に支持された工作物と一体成形され、前記回転軸から偏心した円筒の真円度を測定する真円度測定装置であって、前記円筒の半径を三点接触法により測定する三点接触式測定器と、前記円筒の前記回転軸に垂直な断面上の円周に沿って前記三点接触式測定器を接触移動させる測定器滑動手段と、前記真円度測定装置に対する前記回転軸の相対位置xを測定する位置測定手段と、前記円筒の前記回転軸周りの回転角ψを測定する回転角測定手段と、前記回転軸の周りを回転する前記円筒の真円度を前記相対位置x、前記回転角ψ、及び、前記三点接触式測定器の出力値yより算出する真円度演算手段とを有することを特徴とする真円度測定装置。
IPC (6件):
G01B 21/30 101
, B23Q 17/22
, B24B 49/04
, G01B 5/00
, G01B 5/28 101
, G01B 21/00
FI (6件):
G01B 21/30 101 Z
, B23Q 17/22 A
, B24B 49/04 A
, G01B 5/00 F
, G01B 5/28 101 Z
, G01B 21/00 F
Fターム (53件):
2F062AA10
, 2F062AA11
, 2F062AA21
, 2F062AA57
, 2F062AA81
, 2F062BB04
, 2F062BC46
, 2F062BC80
, 2F062CC22
, 2F062CC27
, 2F062DD03
, 2F062DD24
, 2F062EE01
, 2F062EE54
, 2F062EE62
, 2F062EE66
, 2F062FF17
, 2F062GG24
, 2F062GG28
, 2F062GG29
, 2F062HH05
, 2F062HH13
, 2F062HH16
, 2F062JJ02
, 2F069AA01
, 2F069AA13
, 2F069AA21
, 2F069AA31
, 2F069AA56
, 2F069AA83
, 2F069BB40
, 2F069CC02
, 2F069CC05
, 2F069DD15
, 2F069DD22
, 2F069FF00
, 2F069GG01
, 2F069GG50
, 2F069GG62
, 2F069GG63
, 2F069HH02
, 2F069HH15
, 2F069JJ17
, 2F069LL02
, 2F069LL04
, 2F069NN05
, 2F069QQ10
, 2F069RR05
, 3C029AA01
, 3C029AA06
, 3C034AA01
, 3C034AA13
, 3C034CA02
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開昭54-071483
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特開昭54-071483
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特開昭62-218809
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