特許

J-GLOBAL ID：200903015079753753

測距装置

発明者： 大門 照幸
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-022948
公開番号（公開出願番号）：特開平9-196665
出願日： 1996年01月17日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：

【要約】【課題】 測距対象物が近距離である為に位相差が検出できない状況であっても、測距を行うことを可能にする。【解決手段】 測距対象物が近距離である為に受光像が受光手段からはみ出してしまい、位相差の検出が不能な場合には、受光手段11,12の出力より該受光手段上に結像された受光像の重心位置を求め、この重心位置から測距対象物までの距離を求める演算手段32,33,34を設けている。

請求項（抜粋）：

測距対象物へ光を投射する投光手段と、該投光手段の測距対象物での反射光を受光する受光手段と、前記測距対象物での反射光を前記受光手段上に結像させる為の複数のレンズとを備え、前記受光手段の出力により位相差を検出し、測距対象物までの距離を測距する測距装置において、前記位相差の検出が不可能な場合、前記受光手段の出力に基づいて前記受光手段上に結像された受光像の重心位置を求め、測距対象物までの距離を算出する演算手段を設けたことを特徴とする測距装置。

IPC (5件)：

G01C 3/06 ,  G01S 17/36 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (5件)：

G01C 3/06 A ,  G01S 17/36 ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-263518
  
• 特開平2-019708
  
• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-285207   出願人：オリンパス光学工業株式会社