特許
J-GLOBAL ID：200903015099651698
基板マーク検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-087081
公開番号（公開出願番号）：特開平10-284887
出願日： 1997年04月07日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：
【要約】【課題】 基板マーク周辺にシルク、ランド、パターンなどが隣接した場合にも安定した検出が可能な基板マーク検出方法を提供する。【解決手段】 基板上の複数の基板マークのうち、認識カメラの位置が教示位置のままで検出が可能なものを先に検出し、その検出位置と教示位置とのずれ量を計算し、そのずれ量を用いて他の基板マークの教示位置を自動的に補正して、その位置に認識カメラを移動させる。
請求項（抜粋）：
基板に電子部品を装着する際の装着位置の補正のために、基板に形成された基板マークを認識カメラによって検出するに際し、基板に形成された複数の基板マークのうち、認識カメラを教示位置に位置させたままで検出可能な基板マークを検出し、その検出位置と教示位置とのずれ量を求め、前記ずれ量を用いて他の基板マークの教示位置を補正し、認識カメラを補正後の教示位置に移動させて、前記他の基板マークを検出する基板マーク検出方法。
引用特許：
出願人引用 (2件)
審査官引用 (8件)
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