特許
J-GLOBAL ID：200903015162283181
埃検出装置および埃検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
津川 友士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-325450
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170435
出願日： 1996年12月05日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 短時間で的確な補正処理を施し得るようにして、高精度に埃の検出を行う。【解決手段】 埃検出出力のばらつきを検出するばらつき検出手段13と、検出されたばらつきを予め設定された閾値と比較する比較手段14と、ばらつきが閾値よりも小さいと判定されたことに応答して該当する埃検出出力をほこり検出出力のオフセット値として採用するオフセット値採用手段15と、埃検出出力をこのオフセット値で補正して埃の濃度を検出する濃度検出手段16,17とを含んでいる。
請求項（抜粋）：
埃粒子に起因する散乱光を受光して埃の濃度を検出する埃検出装置であって、埃検出出力のばらつきを検出するばらつき検出手段(13)と、検出されたばらつきを予め設定された閾値と比較する比較手段(14)と、ばらつきが閾値よりも小さいと判定されたことに応答して該当する埃検出出力をほこり検出出力のオフセット値として採用するオフセット値採用手段(15)と、埃検出出力をこのオフセット値で補正して埃の濃度を検出する濃度検出手段(16)(17)とを含むことを特徴とする埃検出装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 21/47 E
, G01N 15/06 D
, G01N 15/06 C
