特許
J-GLOBAL ID：200903015176667500
眼科用測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-152271
公開番号（公開出願番号）：特開平7-124114
出願日： 1993年06月23日
公開日（公表日）： 1995年05月16日
要約：
【要約】【目的】 眼球の偏光特性と複屈折性に影響されずにコントラストの良好な干渉信号が得られる眼科用測定装置を提供する。【構成】 眼科用測定装置は、幾何光学的原理を利用して角膜頂点位置120Pを測定する角膜距離測定系100と、物理光学的原理を利用して眼底152の位置を測定する干渉光学系101とを備え、干渉光学系1101には測定光源部から出射された光束を被検眼内を経由する測定光と可動参照ミラー176を経由する参照光とに分割して測定光路171と参照光路174とを形成すると共に測定光路171と参照光路174とを合成して干渉光路173を形成するビームスプリッタ135が設けられ、干渉光路135には眼底152により反射された測定光と可動参照ミラー176により反射された参照光とによる干渉光を受光する受光素子142が設けられ、測定光源部からの光束は直線偏光であり、測定光源部から出射された光束が被検眼103に導かれる光路の途中にその光軸回りに回転調節可能な旋光子191が設けられている。
請求項（抜粋）：
測定のための光束を射出する測定光源部と、該測定光源部から射出された光束を被検眼内を経由する測定光と被検眼対応参照面を経由する参照光とに分割して、測定光路と参照光路とを形成すると共に、該測定光路と該参照光路とを合成して干渉光路を形成するビームスプリッタを含む干渉光学系と、前記被検眼内の測定対象物により反射された測定光と前記被検眼対応参照面により反射された参照光とによる干渉光を受光する受光素子を有する眼科用測定装置において、前記測定光源部は直線偏光の光束を射出するものとし、前記測定光源部から射出される光束が前記測定光路と前記参照光路とに分割される前にその光軸回りに回転可能な旋光子が設けられていることを特徴とする眼科用測定装置。
引用特許：
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