特許
J-GLOBAL ID:200903015245316820
高温超伝導薄膜を特徴付けるための装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小田島 平吉 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-506440
公開番号(公開出願番号):特表平8-500674
出願日: 1993年08月18日
公開日(公表日): 1996年01月23日
要約:
【要約】誘電体及び基体を位置付ける、共振器部品を使用の間所定の場所に保持する、望ましくないモードを抑制する、磁気双極子結合を調節する、そして電気回路に結合するための改善された手段を有する、高温超伝導薄膜のパラメータを測定するための誘電体共振器装置が開示される。
請求項(抜粋):
すべてが磁気双極子結合のための手段を有する外側の囲い中に入れられている、少なくとも一種の超伝導材料の2枚の別々の膜の間にそしてそれらと接触して位置付けられたサファイアの誘電体要素を有する誘電体共振器装置であって、 (a)サファイア誘電体を位置付けるための手段、 (b)超伝導膜を位置付けるための手段、 (c)操作の間、サファイア誘電体及び超伝導膜を所定の場所に保持するための手段、 (d)望ましくないモードを抑制するための手段、並びに (e)磁気双極子結合の調節のための手段を含んで成る改善を含む共振器。
IPC (2件):
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