特許

J-GLOBAL ID：200903015252324936

ガス成分濃度の計測方法および計測装置

発明者： 出口 祥啓 ,  野田 松平
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099646
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308029
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】従来計測が困難であったバーナ等の機関における二次元ガス成分濃度を定量的に計測可能なガス成分濃度の計測方法および計測装置を提供すること。【構成】測定場Dに存在する測定分子の電子エネルギー遷移に対応する波長の光を上記測定場Dに対して照射する光照射手段1 と、この光照射手段1 による光の照射開始時刻t0を基準時刻として複数の順次異なる時間遅れをもった計測期間を設定する計測期間設定手段7 と、この計測期間設定手段7 により設定された計測期間において前記光照射手段1 による光の照射により前記測定場Dに誘起された蛍光の強度を順次計測する計測手段5 と、この計測手段5 により順次計測した各蛍光の強度の比に基づいて前記測定場Dに存在する測定分子の濃度を判定する手段8 とを備えている。

請求項（抜粋）：

測定場に存在する測定分子の電子エネルギー遷移に対応する波長の光を上記測定場に対して照射すると共に、この光の照射により上記測定場に誘起された蛍光の強度を複数の異なる時間的ずれをもって順次計測し、この順次計測した前記各蛍光の強度の比に基づいて、前記測定場に存在する測定分子の濃度を判定することを特徴とするレーザ誘起蛍光法を用いたガス成分濃度の計測方法。