特許
J-GLOBAL ID:200903015270201256

渦電流探傷プローブ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-239384
公開番号(公開出願番号):特開2002-055083
出願日: 2000年08月08日
公開日(公表日): 2002年02月20日
要約:
【要約】【課題】 リフトオフに基づくノイズの発生を低減でき、検出精度の向上に寄与しうる渦電流探傷プローブを提供する。【解決手段】 励磁コイル21の直径が5mm以上で、且つ初期リフトオフ量が1.3mm以上となるように構成することにより渦電流変化率を低減したものである。
請求項(抜粋):
励磁電流を供給するコイルにより被測定部材に渦電流を発生させ、この渦電流に起因する磁束が被測定部材に発生している傷により変化することを利用してこの磁束の変化を検出するための渦電流探傷プローブにおいて、コイルの直径が5mm以上で、且つ初期リフトオフ量が1.3mm以上となるように構成したことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
Fターム (9件):
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA12 ,  2G053BA23 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053DA01 ,  2G053DB27

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