液晶装置の検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：近島一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-109818
公開番号（公開出願番号）：特開平9-297290
出願日： 1996年04月30日
公開日（公表日）： 1997年11月18日
要約：

【要約】【課題】簡単に、かつ短時間で液晶装置の検査を行うことのできる液晶装置の検査装置を提供する。【解決手段】内部に被検査液晶装置を収納している保持部2に温度制御装置1にて温度制御された空気を循環供給することにより、保持部2内部の温度を任意の温度に保つようにする。そして、このように保持部2内部の温度を任意の温度に保った状態で、検査部8により液晶装置の任意の温度における画素の状態を検査するようにする。そして、保持部2の大きさを10インチ以上の大きさの液晶装置を収納できる大きさとすることにより、大型の液晶装置を検査することができるようにする。なお、保持部2に透明板7にて塞がれる画素状態検査用の開口部を形成すると共に、検査部8を開口部に対向する位置に配することにより、検査部8は被検査液晶装置の画素状態を開口部より検査することができる。

請求項（抜粋）：

所定の大きさ以上の被検査液晶装置を内部に収納する保持部と、前記保持部内部の温度を任意の温度に保つよう該保持部に温度制御された空気を循環供給する温度制御装置と、前記保持部に収納された被検査液晶装置の前記任意の温度における画素の状態を検査する検査部と、を備えてなることを特徴とする液晶装置の検査装置。

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