特許

J-GLOBAL ID：200903015349971731

粒径分布測定方法及び装置

発明者： 榎原 研正 ,  秦 勝一郎
出願人/特許権者： 工業技術院長
代理人 (1件)： 工業技術院計量研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-220029
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055801
出願日： 1998年08月04日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】 気体中に浮遊する粒子の粒径分布を高精度に測定するようにした。【解決手段】 外側電極部12と内側電極部13とにより囲まれる環状の筒状空間部14を構成した電気移動度分級部11と、粒子の粒径分布を直接測定する粒径測定部21とを上下に位置させ、前記電気移動分級部11と粒径測定部21とをガイド枠31で連通し、帯電した測定の対象である粒子を含む試料気体を前記電気移動分級部の筒状空間部に上から供給して粒子を電気移動度に基づき分級し、分級された粒子を含む気体を前記ガイド枠から粒径測定部に供給して粒径分布を直接求め、求められた粒径概算値から粒子の荷電数を求め、これで得られた荷電数と前記電気移動度の値から粒子の粒径を高精度に測定するようにした。

請求項（抜粋）：

気体中に浮遊する粒子を電気移動度に基づいて分級した後、その粒径の概算値を粒径測定法により直接求め、前記電気移動度と求められた粒径概算値から粒子の荷電数を求め、これで得られた荷電数と前記電気移動度の値から、粒子の粒径を高精度に測定するようにしたことを特徴とする粒子の粒径分布測定方法。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01B 21/10 ,  G01N 27/60

FI (3件)：

G01N 15/02 F ,  G01B 21/10 ,  G01N 27/60 C

Fターム (10件)：

2F069BB40 ,  2F069CC08 ,  2F069GG04 ,  2F069GG06 ,  2F069GG07 ,  2F069GG20 ,  2F069GG56 ,  2F069GG71 ,  2F069NN13 ,  2F069NN25