特許
J-GLOBAL ID：200903015364504694
半導体集積回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-272149
公開番号（公開出願番号）：特開平5-080132
出願日： 1991年09月24日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 半導体集積回路において、その内部にAC特性の評価試験を行なう回路を設け、システムに組み込んだ状態で、容易にAC特性の評価を行なうことができるようにする。【構成】 タイミング発生部5でトリガ信号を発生してこれを第1及び第2信号変化点検出部4,17にそれぞれ送出し、第1及び第2信号変化点検出部4,17でそれぞれ内部回路1,2からの異なる2つの入力データを順次保持し、上記トリガ信号を参照して何番目のトリガでデータが変化したかを検出して、比較部6で検出した2つのデータの変化点を比較してトリガ何個分の差分であるかを抽出し、この比較部6で抽出した差分をデータ変換部7でタイミングデータに変換するAC特性試験回路を半導体集積回路内に設け、上記タイミングデータからAC特性を評価し得るように構成した。
請求項（抜粋）：
トリガ信号を発生するタイミング発生部と、内部回路からの入力データを順次保持し、上記トリガ信号を参照して何番目のトリガでデータが変化したかを検出する第1信号変化点検出部と、内部回路からの他の入力データを順次保持し、上記トリガ信号を参照して何番目のトリガでデータが変化したかを検出する第2信号変化点検出部と、検出した2つのデータの変化点を比較してトリガ何個分の差分であるか抽出する比較部と、この比較部で抽出した差分をタイミングデータに変換して出力するデータ変換部とを有するAC特性試験回路を備えてなることを特徴とする半導体集積回路。
FI (2件)：
G01R 31/28 V
, G01R 31/28 Q
