特許
J-GLOBAL ID：200903015365053106
不要輻射の自動測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福山 正博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-139469
公開番号（公開出願番号）：特開2001-324524
出願日： 2000年05月12日
公開日（公表日）： 2001年11月22日
要約：
【要約】【課題】EUT(被測定装置)からの不要輻射(EMI)を、自動的に測定することによりオペレータへの負担を軽減する不要輻射の自動測定方法および装置を提供する。【解決手段】EUTをターンテーブル1に載置し、ターンテーブルコントローラ3により任意角度に回転可能にする。また、アンテナ2の高さ位置をアンテナコントローラ4により、任意に調整可能にする。これらターンテーブルコントローラ3およびアンテナコントローラ4をパーソナルコンピュータ(PC)6によりコントロールする。斯かるシステム構成により、EMI強度が最大になるEUTの角度およびアンテナ2の高さを自動的に調整して、複数の周波数レンジにおいてスペクトラムアナライザ5により不要輻射(EMI)を自動的に測定する。
請求項（抜粋）：
被測定装置(EUT)からの広い周波数レンジにわたる不要輻射をスペクトラムアナライザにより測定する不要輻射の測定方法において、前記EUTをターンテーブルに載置し、前記EUTに対向させてアンテナを配置し、前記ターンテーブルを回転して前記アンテナに対する角度および前記アンテナの高さをそれぞれコンピュータからの制御信号に基づいて調整し、前記スペクトラムアナライザによる最大不要輻射強度位置を求めて得られたデータを記録することを特徴とする不要輻射の自動測定方法。
引用特許：
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