特許
J-GLOBAL ID:200903015381591118

角度測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 土井 健二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-348631
公開番号(公開出願番号):特開平10-185549
出願日: 1996年12月26日
公開日(公表日): 1998年07月14日
要約:
【要約】【課題】簡単な構造で角度を検出する装置を提供する。【解決手段】回転軸(12)の回転角度を測定する角度測定装置において、回転軸を中心に円形状に配置され、一端側から短いパルス信号が入力される第一の導体(10)と、第一の導体の近傍に沿って前記第一の導体に対して回転するよう配置された第二の導体(14)と、第一の導体に前記パルス信号(P1)を入力し、第二の導体が位置する領域で反射する第一の反射パルス信号(P2)を検出し、第一の反射パルス信号の到達時間から第二の導体の位置する角度を検出する角度検出部(16)とを有することを特徴とする。更に、角度検出部(16)は、第二の導体(14)が位置する領域で反射する第一の反射パルス信号(P2)と第一の導体(10)の他端で反射する第二の反射パルス信号(P3)とを検出し、第一及び第二の反射パルス信号の到達時間(t1,t2)から第二の導体の位置する角度を検出することを特徴とする。
請求項(抜粋):
回転軸の回転角度を測定する角度測定装置において、前記回転軸を中心に円形状に配置され、一端側から短いパルス信号が入力される第一の導体と、該第一の導体の近傍に沿って前記第一の導体に対して回転するよう配置された第二の導体と、該第一の導体に前記パルス信号を入力し、前記第二の導体が位置する領域で反射する第一の反射パルス信号を検出し、該第一の反射パルス信号の到達時間から該第二の導体の位置する角度を検出する角度検出部とを有することを特徴とする角度測定装置。
IPC (3件):
G01B 21/22 ,  G01B 7/00 ,  G01D 5/244
FI (3件):
G01B 21/22 ,  G01B 7/00 K ,  G01D 5/244 Z

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