特許
J-GLOBAL ID:200903015384124596

微粒子分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-114917
公開番号(公開出願番号):特開平7-318476
出願日: 1994年05月27日
公開日(公表日): 1995年12月08日
要約:
【要約】【目的】 電解質を含む液体中に存在する微粒子を、その流路中で連続的に高精度で識別する装置を提供する。【構成】 超音波振動子駆動回路15によって制御された超音波振動子5によりセル4中に定在波を発生し、微粒子を管中心に収束させる。電界印加回路17によって電極6を介して交流電場を測定セル4内に発生させて微粒子を振動させる。光源12からの光を測定セル4中に照射し、測定セル4の側面に垂直な方向に振動する微粒子の像をアレイ検出器8上に結像して、微粒子の振幅を検出する。検出した微粒子の振幅データは光信号検出回路16で増幅された後、制御解析部18に送信され、交流電源の位相および流速計20の流速データを基に各微粒子のゼータ電位ζを見積もり、各微粒子の材質を同定する。
請求項(抜粋):
流路を流動する流体中の微粒子を検出測定する微粒子分析装置において、前記微粒子を前記流路の所定の位置で流路の中心部に集める濃縮手段と、前記微粒子集合濃縮部の下流で前記流体に交流電場を印加して、前記微粒子を振動させる電場印加手段と、前記電場印加手段による交流電場の印加領域または印加領域の下流側の近傍で、前記微粒子に光を照射して、振動した前記微粒子の移動速度または位置を検出する検出手段とを有することを特徴とする微粒子分析装置。
IPC (3件):
G01N 15/00 ,  G01N 15/06 ,  G01N 15/10
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 微粒子計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-025131   出願人:株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
  • 特開昭64-003541
  • 粒子濃度測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-164214   出願人:株式会社日立製作所
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