特許
J-GLOBAL ID：200903015410780308
QFP型IC用ICソケットの位置検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-120567
公開番号（公開出願番号）：特開平6-309436
出願日： 1993年04月23日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：
【要約】【目的】 QFP型IC1をICソケット3に接触させ、QFP型IC1を電気試験する装置において、ICソケット3の位置を高精度に検出する。【構成】 画像処理用カメラ4AはICソケット3の撮像データは画像処理部5に入力する。画像処理部5はICソケット3の4隅に直交する接触子3Cの各重心座標Gをのメモリ6Aに格納する。演算手段6Bはメモリ6Aを読み込み、対向する各重心座標Gを結ぶ4線分L1〜L4を算出し、4線分の4交点座標Ci〜Clを算出し、対向する4交点座標を結ぶ2線分L5・L6を算出し、2線分L5・L6の交点座標Coを算出し、線分L1〜L4の少なくとも1つをICソケットの傾きとし、交点座標CoをICソケットの中心座標として位置検出する。
請求項（抜粋）：
位置決め台に置かれたQFP型IC(1) をハンド(2) で吸着し、ICソケット(3) 上に搬送し、QFP型IC(1) をICソケット(3) に接触させ、QFP型IC(1) を電気試験する装置において、画像処理用カメラ(4A)はICソケット(3) を撮像し、ICソケット(3) の撮像データは画像処理部(5) に入力され、画像処理部(5) はQFP型IC(1) のリードに接触するICソケット(3) の接触子(3C)の中からICソケット(3) の4隅に直交する接触子(3C)の各重心座標Gを算出して、前記各重心座標Gを第1のメモリ(6A)に格納し、接触子(3C)の第1辺の両端の重心座標GをGa・Gbとし、接触子(3C)の第2辺の両端の重心座標GをGc・Gdとし、接触子(3C)の第3辺の両端の重心座標GをGe・Gfとし、接触子(3C)の第4辺の両端の重心座標GをGg・Ghとし、演算手段(6B)は第1のステップで、第1のメモリ(6A)から前記各重心座標Gを読み込み、演算手段(6B)は第2のステップで、重心座標Gaと重心座標Gfを結ぶ第1の線分L1と、重心座標Gbと重心座標Geを結ぶ第2の線分L2と、重心座標Gcと重心座標Ghを結ぶ第3の線分L3と、重心座標Gdと重心座標Ggを結ぶ第4の線分L4を算出し、演算手段(6B)は第3のステップで、第1の線分L1と第3の線分L3の交点座標Ciと、第3の線分L3と第2の線分L2の交点座標Cjと、第2の線分L2と第4の線分L4の交点座標Ckと、第4の線分L4と第1の線分L1の交点座標Clとを算出し、演算手段(6B)は第4のステップで、交点座標Ciと交点座標Ckを結ぶ第5の線分L5と、交点座標Cjと交点座標Clを結ぶ第6の線分L6を算出し、演算手段(6B)は第5のステップで、第5の線分L5と第6の線分L6の交点座標Coを算出し、演算手段(6B)は第6のステップで、第1の線分L1の第1のデータD1とし、交点座標Coを第2のデータD2として、第1のデータD1と第2のデータD2を第2のメモリ(6C)に格納し、第1のデータD1を基準となるXY座標でのICソケット(3) の傾きとし、第2のデータD2を基準となるXY座標でのICソケット(3) の中心座標としてICソケット(3) の位置を検出することを特徴とするQFP型IC用ICソケットの位置検出方法。
IPC (4件)：
G06F 15/62 405
, G01R 31/26
, H01L 21/68
, H01L 23/32
